2026/10/8 O型圈为什么会低压渗漏:压缩率、沟槽填充率与密封间隙的设计逻辑 基于COG《O型圈基础》的密封机理与沟槽设计资料,解释低压渗漏的初始接触问题,给出压缩率、近似填充率与尺寸公差的计算方法,并讨论硬度、表面和装配的联合检验。