低压密封

O型圈为什么会低压渗漏：压缩率、沟槽填充率与密封间隙的设计逻辑

基于COG《O型圈基础》的密封机理与沟槽设计资料，解释低压渗漏的初始接触问题，给出压缩率、近似填充率与尺寸公差的计算方法，并讨论硬度、表面和装配的联合检验。